مدلسازی دینامیکی نانومانیپولیشن دو بعدی بر پایه میکروسکوپ نیروی اتمی

thesis
abstract

نانورباتیک یا مانیپولیشن توسط نانوربات مبحث جدیدی است که در خصوص مانیپولیت کنترل شده اجسامی با اندازه نانومتری بحث می کند و مربوط به عکس العمل های موجود بین اجسامی در ابعاد اتمی و مولکولی است. مبحث نانورباتیک شامل دو گروه نانوربات های مشابه با ربات های در دنیای ماکرو و میکروسکوپ روبشی میله ای می شود. میکروسکوپ های روبشر میله ای گروه گسترده ای از میکروسکوپ ها هستند که در سال 1982 جهت تصویر برداری از سطوح اجسامی در اندازه های نانومتری ساخته شدند و ابزار اصلی آن ها پروب نوک تیزی است که در آن ها خواص مختلف فیزیکی بین اتم ها و مولکول های راس پروب و نمونه استفاده می کند. میکروسکوپ نیروی اتمی و میکروسکوپ روبشی تونلی پیشرفته ترین و کاربردی ترین روش های میکروسکوپ های روبشی میله ای هستند. میکروسکوپ نیروی اتمی بر پایه تشخیص نیروهای جاذبه یا دافعه بین سطوح کار می کند و از آن می توان برای نانو ذرات غیر رسانا نیز استفاده نمود که این امر خصوصا موجب کاربرد گسترده آن در نانوذرات بیولوژیکر گشته است. بلافاصله پس از اختراع spm ها ثابت شد که این ابزارها به عنوان نانومانیپولاتور هم قابل استفاده اند در حال حاضر ساخت مونتاژ در مقیاس نانو با استفاده از روش های شیمیایی بطور خلاصه خاص و یامیکروسکوپ های روبشی میله ای که تنها ابزار دسترسی به دنیای نانو هستند انجام می گیرد. پروپ میکروسکوپ به عنوان نانومانیپولاتور ساده برای جابجایی نانوذرات به شکل کشیدن یا راندن روی سطح، بریدن و تشریح، لمس کردن، نانولیتوگرافی/ دندانه گذاری ، بلند کردن اجسام و جابجایی بکارگرفته شده است. در ورود از دنیای ماکرو به دنیای نانو، پدیده اصلی کوچک شدن انداز اجسام است و تاثیر این تغییر طول به عنوان تاثیر مقیاس تعریف شده است که موجب تغییراتی در خواص فیزیکی و هندسی می شود. با در نظر گرفتن مسایل مربوط به تغییر مقیاس، رباتیک بر پایه فیزیک در مقیاس نانو و کنترل هوشمند در نانومانیپولیشن ضروری است. مکانیک و دینامیک در مقیاس نانو هنوز بطور کامل شناخته نشده است و فهم آن در جابجایی موثر و دقیق نانوذرات با استفاده از مانیپولاتور afm بسیار حایز اهمیت است. جهت بررسی مکانیک و دینامیک مانیپولیشن توسط نانوربات afm، دبه درک و فهم عکس العمل های تماس فیزیکی راس پروب با نمونه و نمونه با صفحه مبنا، و تغییر شکل های کانتیلور afm نیاز داریم. در این پایان نامه ، دینامیک نانومانیپولاتور afm در نانومالیپولیشن و مونتاژ ذرات. و حساسیت آن نسبت به تغییرات پارامترهای مختلف در راندن ذرات شبیه سازی شده است و موقعیت مکانی دقیق رای پروب و در نتیجه نانوذرات در هر لحظه از نانومانیپولیشن بدست آمده است که اساس کنترل دقیق جابجایی و مونتاژ ذرات و ابزارهای در مقیاس نانو است. همچنین رفتار دینامیکی ذره در شرایط مختلف بررسی شده است. معادلات سیناتیکی و دینامیکی حرکت پروب و ذره بر اساس نمودار آزاد مساله بدست آمده و شرایط اولیه براساس سرعت ثابت صفحه مبنا، هندسه و مواد کانتیلور، پروب و ذره تعیین شده اند. نهایتا شبیه سازی معادلات با استفاده از کدنویسی توسط نرم افزار mathematica5 انجام شده که توسط نتایج تحقیقات موجود، کاملا تایید شد.

First 15 pages

Signup for downloading 15 first pages

Already have an account?login

similar resources

بررسی رفتار دینامیکی میکروسکوپ نیروی اتمی براساس تئوری گرادیان کرنشی

در این مقاله، رفتار دینامیکی میکروسکوپ نیروی اتمی بر اساس تئوری غیر کلاسیک گرادیان کرنشی مورد مطالعه قرار می گیرد. برای این منظور، میکروتیر میکروسکوپ نیروی اتمی و سوزن متصل به انتهای آن به صورت یک جرم متمرکز مدل سازی شده است. میکروتیر از طریق یک المان پیزوالکتریک متصل به انتهای گیردار تحریک شده و معادله مشتقات جزئی غیرخطی حاکم بر سیستم براساس تئوری اویلر-برنولی استخراج شده است با اعمال روش های ...

full text

مدلسازی وتحلیل ارتعاشات غیرخطی میکروسکوپ نیروی اتمی در محیط مایع به روش تحلیلی

میکروسکوپ نیروی اتمی ابزاری قدرتمند در زمینه تصویربرداری و شناسایی مواد در ابعاد نانو است. عملکرد این وسیله در محیط مایع دارای مزیتهای فراوانی است که میتوان به قابلیت تصویربرداری از نمونه های بیولوژیکی، کاهش نیروی واندروالس و حذف نیروهای مویینگی اشاره کرد. با توجه به اینکه شناخت رفتار دینامیکی این وسیله در محیط مایع در شرایط مختلف ضروری است در این مقاله به صورت تحلیلی با استفاده از روش مقیاسهای...

full text

ارتعاشات خمشی تیر یکسرگیردار میکروسکوپ نیروی اتمی و تأثیر پارامترهای ابعادی بر آن

میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscope) یا به اختصار AFM، ابزاری قدرتمند و ضروری در نانوتکنولوژی است که برای مطالعه، تصویر­برداری و شناسایی مواد مختلف با تفکیک اتمی بکار می­رود و در سه مد تماسی، غیر تماسی و کوبشی کار می­کند. در این مقاله ارتعاشات خمشی تیر یکسر­گیردار مورد استفاده در این دستگاه که در مد غیر تماسی نمونه هایی با سختی سطح متفاوت را اسکن می­کند بررسی می­شود. یافتن فرکانسهای ط...

full text

ارتعاشات خمشی تیر یکسرگیردار میکروسکوپ نیروی اتمی و تأثیر پارامترهای ابعادی بر آن

میکروسکوپ نیروی اتمی (atomic force microscope) یا به اختصار afm، ابزاری قدرتمند و ضروری در نانوتکنولوژی است که برای مطالعه، تصویر­برداری و شناسایی مواد مختلف با تفکیک اتمی بکار می­رود و در سه مد تماسی، غیر تماسی و کوبشی کار می­کند. در این مقاله ارتعاشات خمشی تیر یکسر­گیردار مورد استفاده در این دستگاه که در مد غیر تماسی نمونه هایی با سختی سطح متفاوت را اسکن می­کند بررسی می­شود. یافتن فرکانسهای ط...

full text

My Resources

Save resource for easier access later

Save to my library Already added to my library

{@ msg_add @}


document type: thesis

وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه علم و صنعت ایران - دانشکده مهندسی مکانیک

Hosted on Doprax cloud platform doprax.com

copyright © 2015-2023